X.M. Li; Q.C. Bi; Q.K. Feng; T.K. Chen; S.J. Du

T.K. Bose; D. Allard

J.L. Hemmerich; P. Milverton

L.M. Das

Y.B. Guo; J.L. Parham;

D.M. Yu; Y. Wang; P. Wu

H. Rainer

A.G. Hansel; M. Fairlie; A. Coutts; R.L. Mauro; K.I. Miller

M. Murakami; Y. Hemuki; S. Itoh

B. Gao; Z. Jia

F. Olivier; B. Raynal; T. Pierre;

D. Gabel; U. Hauptmanns

Y. Zhang; L. Lu; G.F. Naterer;

P. Benovsky; I. Brunetti; S. Sigali; C. Leroy; P. Gheri; S. Cocchl;

H.G.Pryce Lewis; M. Seibert; D.K. Benson

Y. Inagaki; T. Takeda; T. Nishihara; K. Onuki; M. Ogawa; S. Shiozawa;

Y. Miyamoto; S. Shiozawa; M. Ogawa; K. Hada; Y. Inagaki; T. Takeda; T. Nishihara

J. Xiao; J.R. Travis; W. Breitung;

I.W. Ekoto; W.G. Houf; A.J. Ruggles; L.W. Creitz; J.X. Li;

J.M. Joubert; M. Latroche; A. Percheron-Guegan

D.A. Coutts

M. Sanai

S.A. Lelewer; H. Barnes; D. Haberman

K. Chitose; Y. Ogawa; M. Hishida; T. Morii

F. Fineschi; M.N. Carcassi; L. Lusini; F. Pilo