K. Nakashima; C. Morillo; Y. Kurono; Y. Sawae; J. Sugimura;

X.M. Li; Q.C. Bi; Q.K. Feng; T.K. Chen; S.J. Du

J.L. Hemmerich; P. Milverton

T.K. Bose; D. Allard

F. Orecchini; A. Santiangeli; A. Dell'Era

L.M. Das

S. Offermanns; E. Roos; W. Stadtmueller;

J.L. Parham; Y.B. Guo; W.H. Sutton;

A. Dhingra; H.G. Im; S. Srinivas; E. Gulari;

D.M. Yu; Y. Wang; P. Wu

H. Rainer

A.G. Hansel; M. Fairlie; A. Coutts; R.L. Mauro; K.I. Miller

D. Gabel; U. Hauptmanns

M.A. Green; E. Baynham; T. Bradshaw; P. Drumm; Y. Ivanyushenkov; S. Ishimoto; M.A. Cummings; W.W. Lau; S.Q. Yang;

M.A.C. Cummings; S. Ishimoto;

Y. Inagaki; T. Takeda; T. Nishihara; K. Onuki; M. Ogawa; S. Shiozawa;

J.C.F. Wang; E.C.E. Ronnebro

Y. Miyamoto; S. Shiozawa; M. Ogawa; K. Hada; Y. Inagaki; T. Takeda; T. Nishihara

U. Umesh; A. De; M.K. Das;

Y.L. Liu; J.Y. Zheng; S.X. Han; Y.Z. Zhao

L. Zhang; M. Wen; Z.Y. Li; J.Y. Zheng; X.X. Liu; Y.Z. Zhao; C.L. Zhou;

I.W. Ekoto; W.G. Houf; A.J. Ruggles; L.W. Creitz; J.X. Li;

J.M. Joubert; M. Latroche; A. Percheron-Guegan

D.A. Coutts

M. Sanai