W. Verbakel; W. Sauerwein; J. Morrissey; F. Stecher-Rasmussen

X.M. Li; Q.C. Bi; Q.K. Feng; T.K. Chen; S.J. Du

J.L. Hemmerich; P. Milverton

T.K. Bose; D. Allard

L.M. Das

H. Rainer

D.M. Yu; Y. Wang; P. Wu

A.G. Hansel; M. Fairlie; A. Coutts; R.L. Mauro; K.I. Miller

D. Gabel; U. Hauptmanns

Y. Inagaki; T. Takeda; T. Nishihara; K. Onuki; M. Ogawa; S. Shiozawa;

Y. Miyamoto; S. Shiozawa; M. Ogawa; K. Hada; Y. Inagaki; T. Takeda; T. Nishihara

D.A. Costa; W.J. Oldham; R. Chavarria

J.M. Joubert; M. Latroche; A. Percheron-Guegan

D.A. Coutts

M. Sanai

S.A. Lelewer; H. Barnes; D. Haberman

Z.S. Xu; F.Y. Wang

K. Chitose; Y. Ogawa; M. Hishida; T. Morii

F. Fineschi; M.N. Carcassi; L. Lusini; F. Pilo