D.E. Baynham; T. Bradshaw; M.A. Green; S. Ishimoto; N. Liggins

M.Jung Kim; S.Min Cho;

H. Tatsumoto; T. Aso; S. Hasegawa; I. Ushijima; T. Kato; K. Ohtsu; Y. Ikeda

A.A. Kazemi; K. Goswami; U. Sampathkumaran

A. Baker; J. Morrissey; P. Manolatos; R. Hurst

J.G. Weisend; R. Arnold; P. Bosted; R. Boyce; A. Candia; R. Carr; J. Gao; C.E. Jones; W. Kaminskas; J. Mark; R. McKeown; M. Racine; S. St Lorant; T. Weber

I.W. Ekoto; W.G. Houf; A.J. Ruggles; L.W. Creitz; J.X. Li;

R. Hill; A.S.M. International

M.A. Green

Y.N. Shebeko

R. Fujisawa; T. Kurashige; Y. Inagaki; M. Senoo

P. Therkelsen; J. Mauzey; V. McDonell; S. Samuelsen;

G.S. Zeng

C. Nutzenadel; A. Zuttel; L. Schlapbach

O. Lupan; V. Cretu; V. Sontea; S. Railean; L. Ghimpu; I. Tiginyanu; Y. Rudzevich; Y. Lin; L. Chow;

K. Yamanaka

Y. Xu; H. Xie; H. Li; W. Wu