D.E. Baynham; T. Bradshaw; M.A. Green; S. Ishimoto; N. Liggins

Y. Tian; H. Hou; X. Ren

K. Aoki

Y.K. Gao; F. Sun

B.S. Chao; R.C. Young; V. Myasnikov; Y. Li; B. Huang; F. Gingl; P.D. Ferro; V. Sobolev; S.R. Ovshinsky

M.Jung Kim; S.Min Cho;

H. Tatsumoto; T. Aso; S. Hasegawa; I. Ushijima; T. Kato; K. Ohtsu; Y. Ikeda

R.M. Woolley; M. Fairweather; S.A.E.G. Falle; J.R. Giddings

R.A. Kallman; N.F. Barilo; W.F. Murphy; P.L. International

A.A. Kazemi; K. Goswami; U. Sampathkumaran

S.Heon Han; D. Chang

B. Chernyavsky; P. Benard; J. Devaal; B. Angers; P.L. International

M.H. Klopffer; P. Berne; M. Weber; S. Castagnet; G. Hochstetter; E. Espuche

Y. Zheng; H. Du

J.G. Weisend; R. Arnold; P. Bosted; R. Boyce; A. Candia; R. Carr; J. Gao; C.E. Jones; W. Kaminskas; J. Mark; R. McKeown; M. Racine; S. St Lorant; T. Weber

L. Huang; R.B.H. Tan; M.L. Preston; I. Icheme

M.Z. Alam; J. Moreno; J.S. Aitchison; M. Mojahedi; A.A. Kazemi

M.A. Green

R. Fujisawa; T. Kurashige; Y. Inagaki; M. Senoo

A.A. Kazemi

C. Nutzenadel; A. Zuttel; L. Schlapbach

Y. Tian; Y. Wei; H. Hou; X. Ren

M.A. Lang; I. Altpeter; G. Dobmann

Y. Peng; R. Hugon; F. Brochard; J.L. Vasseur; D. Lacroix; C. Brosset; J. Bougdira

K. Yamanaka