W. Verbakel; W. Sauerwein; J. Morrissey; F. Stecher-Rasmussen

X.M. Li; Q.C. Bi; Q.K. Feng; T.K. Chen; S.J. Du

J.G. Weisend; R. Boyce; W. Burgess; A. Candia; R. Carr; J. Gao; K. Gustafsson; C. Jones; W. Kaminskas; G. Oxoby; R. McKeown; H. Quack; A. Scott; T. Weber

Y.B. Guo; J.L. Parham;

Y. Tian; H. Hou; X. Ren

D.M. Yu; Y. Wang; P. Wu

K. Aoki

M. Murakami; Y. Hemuki; S. Itoh

B. Gao; Z. Jia

Y.K. Gao; F. Sun

F. Olivier; B. Raynal; T. Pierre;

D. Gabel; U. Hauptmanns

Y. Zhang; L. Lu; G.F. Naterer;

P. Benovsky; I. Brunetti; S. Sigali; C. Leroy; P. Gheri; S. Cocchl;

B.S. Chao; R.C. Young; V. Myasnikov; Y. Li; B. Huang; F. Gingl; P.D. Ferro; V. Sobolev; S.R. Ovshinsky

H.G.Pryce Lewis; M. Seibert; D.K. Benson

Y. Inagaki; T. Takeda; T. Nishihara; K. Onuki; M. Ogawa; S. Shiozawa;

R.M. Woolley; M. Fairweather; S.A.E.G. Falle; J.R. Giddings

S. Kasthurirengan; U. Behera; D.S. Nadig

J. Xiao; J.R. Travis; W. Breitung;

S. Sepehri; Y. Liu; G. Cao

A. Baker; J. Morrissey; P. Manolatos; R. Hurst

G. Landucci; A. Tugnoli; V. Cozzani

D.A. Costa; W.J. Oldham; R. Chavarria

J.M. Joubert; M. Latroche; A. Percheron-Guegan