S.G. Xu; R.C. Wei; Y.L. Zhao; C. Wang; C.Y. Zhang

J. Daubech; J. Hebrard; S. Jallais; E. Vyazmina; D. Jamois; F. Verbecke

W. Hubner; T. Gradt; T. Schneider; H. Borner

R.P. Lindstedt; V. Sakthitharan

I. Simonovski; D. Baraldi; D. Melideo; B. Acosta-Iborra

T. Johnson; R. Bozinoski; J.J. Ye; G. Sartor; J.Y. Zheng; J. Yang

S. Nomura; T. Tanaka

A. Bourlioux; A.J. Majda

P. Sathiah; E. Komen; D. Roekaerts

E.M.J. Komen; D.C. Visser; F. Roelofs; J.G.T.Te Lintelo

H. Knorr; W. Held; W. Pruemm; H. Ruediger

T.A. Doyle

G. Imbert; J.S. Colton; W. Long; Y. Grossman; H.J. Moore

W.Y. Cheng; S.D. Wu; H.K. Ma

L. Tong; L. Hou; X. Cao

J.K. Watterson; I.J. Connell; A.M. Savill; W.N. Dawes

H. Matsunaga; M. Yoshikawa; R. Kondo; J. Yamabe; S. Matsuoka

P.R. Ohodnicki; J.P. Baltrus; T.D. Brown

V. Tufano; M. Maremonti; E. Salzano; G. Russo

U. Maas; S.B. Pope

V.N. Mironov; O.G. Penyazkou; D.G. Ignatenko

V. Palmisano; E. Weidner; L. Boon-Brett; C. Bonato; F. Harskamp; P. Moretto; M.B. Post; R. Burgess; C. Rivkin; W.J. Buttner

W.A. Summers

H. Sato; H. Ohashi; S. Nakagawa; Y. Tachibana; K. Kunitomi