X.M. Li; Q.C. Bi; Q.K. Feng; T.K. Chen; S.J. Du

J.S. Kinn; S.H. Lee; I.C. Hwang; T.W. Lim;

V.A. Goltsov

T.K. Bose; D. Allard

L.M. Das

Z.Q. Mao; Z.X. Liu; C. Wang; N.F. Wan

R. Zimmerman; G. Morrison; G. Rosengarten;

S. Saponara; E. Petri; L. Fanucci; P. Terreni

H. Estrada; E.M. Hauser;

S. Saponara; A. Forconi; P. Terreni;

D.M. Yu; Y. Wang; P. Wu

Q.L. Hai; P.L. Wang; C. Wang

C.W. Forsberg; M. Gorensek; S. Herring; P. Pickard;

H. Rainer

A.G. Hansel; M. Fairlie; A. Coutts; R.L. Mauro; K.I. Miller

D. Gabel; U. Hauptmanns

Y. Inagaki; T. Takeda; T. Nishihara; K. Onuki; M. Ogawa; S. Shiozawa;

Y. Miyamoto; S. Shiozawa; M. Ogawa; K. Hada; Y. Inagaki; T. Takeda; T. Nishihara

W. Breitung; U. Bielert; G. Necker; A. Veser; F.J. Wetzel; K. Pehr

A. Baker; J. Morrissey; P. Manolatos; R. Hurst

Y. Baghzouz; J. Fiene; J. Van Dam; L. Shi; E. Wilkinson; R. Boehm; T. Kell; A. Aiaa

S. Ohmiya; H. Fuji

J.M. Joubert; M. Latroche; A. Percheron-Guegan

D.A. Coutts

R. Hill; A.S.M. International