G. Karlsson; K. Hedberg;

X.M. Li; Q.C. Bi; Q.K. Feng; T.K. Chen; S.J. Du

J.S. Kinn; S.H. Lee; I.C. Hwang; T.W. Lim;

V.A. Goltsov

D. Errede; R. Alber; A. Bross; M. Foley; S. Geer; C. Johnstone; N. Mokhov; B. Norris; M. Popovic; I. Rakhno; K. Vaziri; E. Black; M.A.C. Cummings

R. Zimmerman; G. Morrison; G. Rosengarten;

S. Saponara; E. Petri; L. Fanucci; P. Terreni

H. Estrada; E.M. Hauser;

S. Saponara; A. Forconi; P. Terreni;

E.U. Ubong; I. Ieee

D.M. Yu; Y. Wang; P. Wu

Q.L. Hai; P.L. Wang; C. Wang

A. Freslon

C.W. Forsberg; M. Gorensek; S. Herring; P. Pickard;

D. Gabel; U. Hauptmanns

Y. Inagaki; T. Takeda; T. Nishihara; K. Onuki; M. Ogawa; S. Shiozawa;

W. Breitung; U. Bielert; G. Necker; A. Veser; F.J. Wetzel; K. Pehr

Y. Baghzouz; J. Fiene; J. Van Dam; L. Shi; E. Wilkinson; R. Boehm; T. Kell; A. Aiaa

J.M. Joubert; M. Latroche; A. Percheron-Guegan

R. Hill; A.S.M. International

L.F. Goltsova

J.L. Aprea

A.G. Sun; Y.N. Shen; B. Chen; Z.H. Gan

P. Therkelsen; J. Mauzey; V. McDonell; S. Samuelsen;

C. Devillers; K. Pehr; D. Stoll; F.J. Wetzel; J.S. Duffield; H. Grubel; S. Zisler; H. Vandenborre; T. Driessens; A. Gonzalez; G.C.A. Vegas; R. Wurster; M. Kesten; M. Machel; F. Michel; F. Heurtaux; P. Adams