G. Karlsson; K. Hedberg;

D. Errede; R. Alber; A. Bross; M. Foley; S. Geer; C. Johnstone; N. Mokhov; B. Norris; M. Popovic; I. Rakhno; K. Vaziri; E. Black; M.A.C. Cummings

D.E. Baynham; T. Bradshaw; M.A. Green; S. Ishimoto; N. Liggins

E.U. Ubong; I. Ieee

A. Freslon

M.Jung Kim; S.Min Cho;

H. Tatsumoto; T. Aso; S. Hasegawa; I. Ushijima; T. Kato; K. Ohtsu; Y. Ikeda

A.A. Kazemi; K. Goswami; U. Sampathkumaran

G. Stewart; G. Whitenett; K. Atherton; B. Culshaw; W. Johnstone

J.G. Weisend; R. Arnold; P. Bosted; R. Boyce; A. Candia; R. Carr; J. Gao; C.E. Jones; W. Kaminskas; J. Mark; R. McKeown; M. Racine; S. St Lorant; T. Weber

I.W. Ekoto; W.G. Houf; A.J. Ruggles; L.W. Creitz; J.X. Li;

R. Hill; A.S.M. International

M.A. Green

A.G. Sun; Y.N. Shen; B. Chen; Z.H. Gan

P. Therkelsen; J. Mauzey; V. McDonell; S. Samuelsen;

O. Lupan; V. Cretu; V. Sontea; S. Railean; L. Ghimpu; I. Tiginyanu; Y. Rudzevich; Y. Lin; L. Chow;

K. Yamanaka

Y. Xu; H. Xie; H. Li; W. Wu