P. Bellaby; P. Upham; R. Flynn; M. Ricci

R. Beauvais; F. Mayinger; G. Strube

J.J. Xiao; J.R. Travis; P. Royl; G. Necker; A. Svishchev; T. Jordan

N. de Miguel; B. Acosta; D. Baraldi; R. Melideo; R.O. Cebolla; P. Moretto

K.P. Scheuermann

D. Bradley; Z. Chen; S. El-Sherif; S.E.D. Habik; G. John; G. Dixon-Lewis

J. Gretz; B. Drolet; D. Kluyskens; F. Sandmann; O. Ullmann

K. Pehr

J.G. Hansel; G.W. Mattern; R.N. Miller

U. Schmidtchen; T. Gradt; G. Wursig

G.A. Greene; D.H. Cho; M.L. Hyder; D.K. Allison; P.G. Ellison

G. Casarini

J. Nakayama; J. Sakamoto; N. Kasai; T. Shibutani; A. Miyake

T. Mantel

S.L. Grossman; S. Davidi; H. Cohen

S.G. Giannissi; I.C. Tolias; A.G. Venetsanos

S. Lomperski; M.L. Corradini

L.K. Tseng; M.A. Ismail; G.M. Faeth

K. Lee; H.M. Kwon; S. Cho; J. Kim; I. Moon

S. Wilson

L.L. Tong

P.N. Kioni; B. Rogg; K.N.C. Bray; A. Linan

P.Centers fo and

N.V. Toan; N.V. Chien; N.V. Duy; H.S. Hong; H. Nguyen; N.D. Hoa; N.V. Hieu

M.I. Khan; T. Yasmeen; A. Shakoor; N.B. Khan; M. Wakeel; B. Chen