O.M. Lovvik

P. Middha; O.R. Hansen

L.J.M. Juffermans; A. van Dijk; C.A.M. Jongenelen; B. Drukarch; A. Reijerkerk; H.E. de Vries; O. Kamp; R.J.P. Musters

R. Beauvais; F. Mayinger; G. Strube

F. Peneau; G. Pedro; P. Oshkai; P. Benard; N. Djilali

S. Brennan; A. Bengaouer; M. Carcassi; G. Cerchiara; G. Evans; A. Friedrich; O. Gentilhomme; W. Houf; A. Kotchurko; N. Kotchourko; S. Kudriakov; D. Makarov; V. Molkov; E. Papanikolaou; C. Pitre; M. Royle; R. Schefer; G. Stern; A. Venetsanos; A. Veser; D. Willoughby; J. Yanez;

A. Debray; M. Shibata; H. Fujita

C. Joseph-Auguste; H. Cheikhravat; N. Djebaili-Chaumeix; E. Deri

; N. Hur; ; ;

T.N. Agayev

Y.H.Perciva Zhang

A. Hourri; B. Angers; P. Benard

J.P. Van Dorsselaere; D. Perrault; M. Barrachin; A. Bentaib; J. Bez; P. Cortes; C. Seropian; N. Tregoures; J. Vendel

D. Lee; K.Jae Wook;

K.P. Scheuermann

W.In Sung; M.H. Hwang; J.Hee Lee; ; J.Hun Kim

D. Bradley; Z. Chen; S. El-Sherif; S.E.D. Habik; G. John; G. Dixon-Lewis

J. Gretz; B. Drolet; D. Kluyskens; F. Sandmann; O. Ullmann

T.F. Jiang; Z.H. Lv; Y.H. Wang; M.E. Yue; S. Lian

N.J. Duijm; F. Markert

J.G. Hansel; G.W. Mattern; R.N. Miller

M. Fischer; R. Ewald

M. Casamirra; F. Castiglia; M. Giardina; C. Lombardo

K. Pehr

K. Baumgartner; R. Ewald