J.L. Aprea; H.L. Corso; J.C. Bolcich

G.R. Hunt; N.G. Kaye

O.M. Lovvik

H. Sato; H. Ohashi; S. Nakagawa; Y. Tachibana; K. Kunitomi

C. Jaekel; S. Kelm; E.A. Reinecke; K. Verfondern; H.J. Allelein

P. Middha; O.R. Hansen

J.K. Clutter; M.G. Whitney

A. Zhang; P. Hu; P. MacGregor; Y. Xue; H. Fan; P. Suchecki; L. Olszewski; A. Liu

L.J.M. Juffermans; A. van Dijk; C.A.M. Jongenelen; B. Drukarch; A. Reijerkerk; H.E. de Vries; O. Kamp; R.J.P. Musters

R. Jiang; F. Qin; Q. Ruan; J. Wang; C. Jin

R. Beauvais; F. Mayinger; G. Strube

T. Tanabe

C.L.W. Hsu; J.A. Ritter

F. Peneau; G. Pedro; P. Oshkai; P. Benard; N. Djilali

S. Brennan; A. Bengaouer; M. Carcassi; G. Cerchiara; G. Evans; A. Friedrich; O. Gentilhomme; W. Houf; A. Kotchurko; N. Kotchourko; S. Kudriakov; D. Makarov; V. Molkov; E. Papanikolaou; C. Pitre; M. Royle; R. Schefer; G. Stern; A. Venetsanos; A. Veser; D. Willoughby; J. Yanez;

M. Wykes; G. Counsell; D. McGlinchey; C.H. Wu

A. Debray; M. Shibata; H. Fujita

S.R. Tieszen

A.E. Dahoe; R.S. Cant; M.J. Pegg; B. Scarlett

T.T. Lim; T.H. New; S.C. Luo

S.Z. Sulaiman; R.M. Kasmani; M.H.M. Kiah; K. Kidam; M.H. Hassim; N. Ibrahim; R.R. Ali

P. Lehman

; N. Hur; ; ;

V.A. Mamet; V.A. Yurmanov; V.L. Zabolotnykh

C. Joseph-Auguste; H. Cheikhravat; N. Djebaili-Chaumeix; E. Deri