O.M. Lovvik

P. Middha; O.R. Hansen

L.J.M. Juffermans; A. van Dijk; C.A.M. Jongenelen; B. Drukarch; A. Reijerkerk; H.E. de Vries; O. Kamp; R.J.P. Musters

F. Peneau; G. Pedro; P. Oshkai; P. Benard; N. Djilali

S. Brennan; A. Bengaouer; M. Carcassi; G. Cerchiara; G. Evans; A. Friedrich; O. Gentilhomme; W. Houf; A. Kotchurko; N. Kotchourko; S. Kudriakov; D. Makarov; V. Molkov; E. Papanikolaou; C. Pitre; M. Royle; R. Schefer; G. Stern; A. Venetsanos; A. Veser; D. Willoughby; J. Yanez;

C.H. Christensen; T. Johannessen; R.Z. Sorensen; J.K. Norskov

A. Debray; M. Shibata; H. Fujita

J.S. Kinn; S.H. Lee; I.C. Hwang; T.W. Lim;

C. Joseph-Auguste; H. Cheikhravat; N. Djebaili-Chaumeix; E. Deri

; N. Hur; ; ;

T.N. Agayev

J.M. Ohi; R. Hewett

F. Orecchini

V. Molkov; D. Makarov; J. Puttock

Y. Maeda; M. Takahashi; Y. Tamura; J. Suzuki; S. Watanabe

P. Saxena; F.A. Williams

F. Orecchini; A. Santiangeli; A. Dell'Era

Y.H.Perciva Zhang

D.R. Stephens; P.E. George

A. Hourri; B. Angers; P. Benard

J.P. Van Dorsselaere; D. Perrault; M. Barrachin; A. Bentaib; J. Bez; P. Cortes; C. Seropian; N. Tregoures; J. Vendel

D. Lee; K.Jae Wook;

W.In Sung; M.H. Hwang; J.Hee Lee; ; J.Hun Kim

M. Nishikawa; K. Furuichi; H. Takata

K. Tsukada; T. Kiwa; T. Yamaguchi; S. Migitaka; Y. Goto; K. Yokosawa