G. Karlsson; K. Hedberg;

A. Fakhru'l-Razi; S.E. Iyuke; M.B. Hassan; M.S. Aini

O.M. Lovvik

V.V. Molkov; A.V. Grigorash; R.M. Eber

V.V. Molkov; R.M. Eber; A.V. Grigorash; F. Tamanini; R. Dobashi

H. Sato; H. Ohashi; S. Nakagawa; Y. Tachibana; K. Kunitomi

C. Jaekel; S. Kelm; E.A. Reinecke; K. Verfondern; H.J. Allelein

P. Middha; O.R. Hansen

P.F. Nelson; A. Mendoza; J.L. Francois

Y. Dumont; P. Aujollet; J.H. Ferrasse

A.J. Pierorazio; J.K. Thomas; Q.A. Baker; D.E. Ketchum

J.A. Miller; M.J. Pilling; J. Troe

A. Zhang; P. Hu; P. MacGregor; Y. Xue; H. Fan; P. Suchecki; L. Olszewski; A. Liu

L.J.M. Juffermans; A. van Dijk; C.A.M. Jongenelen; B. Drukarch; A. Reijerkerk; H.E. de Vries; O. Kamp; R.J.P. Musters

R. Jiang; F. Qin; Q. Ruan; J. Wang; C. Jin

P.E. Dimotakis

W. Hubner; T. Gradt; T. Schneider; H. Borner

P. Karageorgos; M. Latos; C. Kotsifaki; M. Lazaridis; N. Kalogerakis

F. Peneau; G. Pedro; P. Oshkai; P. Benard; N. Djilali

S. Brennan; A. Bengaouer; M. Carcassi; G. Cerchiara; G. Evans; A. Friedrich; O. Gentilhomme; W. Houf; A. Kotchurko; N. Kotchourko; S. Kudriakov; D. Makarov; V. Molkov; E. Papanikolaou; C. Pitre; M. Royle; R. Schefer; G. Stern; A. Venetsanos; A. Veser; D. Willoughby; J. Yanez;

R.P. Lindstedt; V. Sakthitharan

J. Cai; F. Liu; W.A. Sirignano

S.Chan Kim; S.Hoon Lee; K.Bong Yoon

A. Debray; M. Shibata; H. Fujita

W. Yang; ; S.Hee Won; S.Ho Chung;