W. Verbakel; W. Sauerwein; J. Morrissey; F. Stecher-Rasmussen

J.S. Kinn; S.H. Lee; I.C. Hwang; T.W. Lim;

V.A. Goltsov

F. Orecchini; A. Santiangeli; A. Dell'Era

J.L. Parham; Y.B. Guo; W.H. Sutton;

Y.B. Guo; J.L. Parham;

R. Zimmerman; G. Morrison; G. Rosengarten;

S. Saponara; E. Petri; L. Fanucci; P. Terreni

H. Estrada; E.M. Hauser;

S. Saponara; A. Forconi; P. Terreni;

A. Dhingra; H.G. Im; S. Srinivas; E. Gulari;

Q.L. Hai; P.L. Wang; C. Wang

A. Freslon

C.W. Forsberg; M. Gorensek; S. Herring; P. Pickard;

M. Murakami; Y. Hemuki; S. Itoh

B. Gao; Z. Jia

F. Olivier; B. Raynal; T. Pierre;

Y. Zhang; L. Lu; G.F. Naterer;

P. Benovsky; I. Brunetti; S. Sigali; C. Leroy; P. Gheri; S. Cocchl;

H.G.Pryce Lewis; M. Seibert; D.K. Benson

M.A. Green; E. Baynham; T. Bradshaw; P. Drumm; Y. Ivanyushenkov; S. Ishimoto; M.A. Cummings; W.W. Lau; S.Q. Yang;

M.A.C. Cummings; S. Ishimoto;

J.C.F. Wang; E.C.E. Ronnebro

W. Breitung; U. Bielert; G. Necker; A. Veser; F.J. Wetzel; K. Pehr

J. Xiao; J.R. Travis; W. Breitung;