W. Verbakel; W. Sauerwein; J. Morrissey; F. Stecher-Rasmussen

J.G. Weisend; R. Boyce; W. Burgess; A. Candia; R. Carr; J. Gao; K. Gustafsson; C. Jones; W. Kaminskas; G. Oxoby; R. McKeown; H. Quack; A. Scott; T. Weber

X.M. Li; Q.C. Bi; Q.K. Feng; T.K. Chen; S.J. Du

V.A. Goltsov

D.E. Baynham; T. Bradshaw; M.A. Green; S. Ishimoto; N. Liggins

D.M. Yu; Y. Wang; P. Wu

Q.L. Hai; P.L. Wang; C. Wang

K. Aoki

D. Gabel; U. Hauptmanns

B.S. Chao; R.C. Young; V. Myasnikov; Y. Li; B. Huang; F. Gingl; P.D. Ferro; V. Sobolev; S.R. Ovshinsky

M.Jung Kim; S.Min Cho;

H. Tatsumoto; T. Aso; S. Hasegawa; I. Ushijima; T. Kato; K. Ohtsu; Y. Ikeda

Y. Inagaki; T. Takeda; T. Nishihara; K. Onuki; M. Ogawa; S. Shiozawa;

A.A. Kazemi; K. Goswami; U. Sampathkumaran

W. Breitung; U. Bielert; G. Necker; A. Veser; F.J. Wetzel; K. Pehr

Y. Baghzouz; J. Fiene; J. Van Dam; L. Shi; E. Wilkinson; R. Boehm; T. Kell; A. Aiaa

J.G. Weisend; R. Arnold; P. Bosted; R. Boyce; A. Candia; R. Carr; J. Gao; C.E. Jones; W. Kaminskas; J. Mark; R. McKeown; M. Racine; S. St Lorant; T. Weber

D.A. Costa; W.J. Oldham; R. Chavarria

J.M. Joubert; M. Latroche; A. Percheron-Guegan

L. Huang; R.B.H. Tan; M.L. Preston; I. Icheme

K. Saito; T. Mouri

R. Hill; A.S.M. International

L.F. Goltsova

M.A. Green

A. Aiello; G. Benamati; C. Fazio; A. Nea; N.E.A. Aen