O.M. Lovvik

P. Middha; O.R. Hansen

L.J.M. Juffermans; A. van Dijk; C.A.M. Jongenelen; B. Drukarch; A. Reijerkerk; H.E. de Vries; O. Kamp; R.J.P. Musters

R. Beauvais; F. Mayinger; G. Strube

F. Peneau; G. Pedro; P. Oshkai; P. Benard; N. Djilali

S. Brennan; A. Bengaouer; M. Carcassi; G. Cerchiara; G. Evans; A. Friedrich; O. Gentilhomme; W. Houf; A. Kotchurko; N. Kotchourko; S. Kudriakov; D. Makarov; V. Molkov; E. Papanikolaou; C. Pitre; M. Royle; R. Schefer; G. Stern; A. Venetsanos; A. Veser; D. Willoughby; J. Yanez;

P. Benard; V. Mustafa; A. Chahbaz; D.R. Hay

A. Debray; M. Shibata; H. Fujita

S. Nomura; T. Tanaka

A. Bourlioux; A.J. Majda

V.A. Mamet; V.A. Yurmanov; V.L. Zabolotnykh

; N. Hur; ; ;

V. Raman

Y. Khristenko; V. Tomilin

A. Bain; W.D. v. Vorst

Y. Khristenko; V. Tomilin

C. Joseph-Auguste; H. Cheikhravat; N. Djebaili-Chaumeix; E. Deri

T.N. Agayev

G. Imbert; J.S. Colton; W. Long; Y. Grossman; H.J. Moore

Y.H.Perciva Zhang

A. Hourri; B. Angers; P. Benard

J.P. Van Dorsselaere; D. Perrault; M. Barrachin; A. Bentaib; J. Bez; P. Cortes; C. Seropian; N. Tregoures; J. Vendel

H. Tamm

W.In Sung; M.H. Hwang; J.Hee Lee; ; J.Hun Kim

K.P. Scheuermann