M.Z. Haq; C.G.W. Sheppard; R. Woolley; D.A. Greenhalgh; R.D. Lockett

S.C. Weiner; L.L. Fassbender; C. Blake; S.M. Aceves; B.P. Somerday; A. Ruiz

J. Malet; Ddu Lou; T. Gelain

S.G. Xu; R.C. Wei; Y.L. Zhao; C. Wang; C.Y. Zhang

J. Daubech; J. Hebrard; S. Jallais; E. Vyazmina; D. Jamois; F. Verbecke

D. Veynante; L. Vervisch

S.T. Revankar

J.B. Terrill; R.R. Montgomery; C.F. Reinhardt

J.B. Saffers; V.V. Molkov

J. Cai; F. Liu; W.A. Sirignano

I. Simonovski; D. Baraldi; D. Melideo; B. Acosta-Iborra

T. Johnson; R. Bozinoski; J.J. Ye; G. Sartor; J.Y. Zheng; J. Yang

I. Simon; M. Arndt

B.M. Maxwell; P. Tawagi; M.I. Radulescu

J. Fradera; S. Cuesta-Lopez

P. Sathiah; E. Komen; D. Roekaerts

E.M.J. Komen; D.C. Visser; F. Roelofs; J.G.T.Te Lintelo

S.H. Kim; M. Kim; Y. Yoon; I.S. Jeung

G.O. Thomas

A.E. Dahoe; R.S. Cant; B. Scarlett

S. Moroz; X.Fu Tan; J. Pierce; M. Greaves; A. Duguid; K. Dumur; J. Ng

R. Landgrebe; M. Gugau; H. Friederich

L. Truche; M.C. Jodin-Caumon; C. Lerouge; G. Berger; R. Mosser-Ruck; E. Giffaut; N. Michau

D. Lietze